Р. Андерсоном была предложена энергетическая диаграмма идеализированного резкого гетероперехода, в котором:

В этом случае формирование области пространственного заряда определяется соотношением работ выхода электронов из полупроводников, образующих гетеропереход [1÷3]. Энергетическая диаграмма идеального анизотипного pN-гетероперехода представлена на рис. 5.2. Схема ее построения изображена на рис. 5.1, а, б.

Рис. 5.2. Энергетическая диаграмма резкого pN-гетероперехода в модели Андерсона

Из-за различия ширины запрещенной зоны полупроводников 1 и 2 края разрешенных зон на гетерогранице изменяются скачками. Как видно из рис. 5.2, величина скачка дна зоны проводимости равна

Δ E c = χ 1 0 χ 2 0.
(5.2)

В модели Андерсона предполагается, что χ 1 0 и χ 2 0 – обычные энергии электронного сродства, необходимые для удаления электрона со дна зоны проводимости полупроводников 1 и 2 на уровень вакуума (т.е. на расстояние от поверхности полупроводника, большее радиуса действия сил изображения). Соотношение (5.2) получило название правила электронного сродства. Значения энергий электронного сродства в некоторых полупроводниках приведены в Приложении 1.

Величина скачка потолка валентной зоны на гетерогранице определяется выражением

Δ E v = E g2 E g1 Δ E c.
(5.3)

Как следует из выражений (5.2) и (5.3), величины скачков ΔEc и ΔEv в модели Андерсона не зависят от уровня легирования p- и N- областей до тех пор, пока от легирования не зависят энергия электронного сродства и ширина запрещенной зоны.

Отношение равновесных изгибов энергетических зон в p- и N- полупроводниках в идеализированной модели гетероперехода определяется уровнями легирования и диэлектрическими проницаемостями его N- и p- областей [1,2]:

U к1 U к2 = ε 2 N d2 ε 1 N a1.
(5.4)

При этом

U к1 + U к2 = U к.
(5.5)

Недостатком модели Андерсона является то, что в ней для построения энергетической диаграммы гетероперехода используются только параметры контактирующих полупроводников и не учитываются специфические свойства самой гетерограницы. Кроме того, для расчетов ΔEc и ΔEv используются экспериментальные значения энергий электронного сродства χ 1 0 и χ 2 0, измеренные на границах раздела полупроводник–вакуум. Такие значения не являются характеристикой объемных свойств полупроводника, а зависят также от эффектов, связанных с возникновением приповерхностного заряженного слоя, свойства которого, в свою очередь, определяются качеством поверхности и даже при наличии совершенной поверхности – ее кристаллографической ориентацией.

Следствием этого является расхождение значений ΔEc и ΔEv, рассчитываемых по формулам (5.2) и (5.3), с экспериментальными данными.