Основной базой для проведения патентных исследований является патентный поиск.
Перед проведением патентного поиска необходимо осуществить классификацию предмета поиска в соответствии с Международной патентной классификацией – специальной системой упорядочения патентных документов, в которой все изобретения классифицируются по предметно-тематическим признакам.
В настоящее время действует восьмая редакция Международной патентной классификации (МПК), сокращенно обозначаемая как МПК-8 или МПК (2006).
Подробная информация о структуре МПК, аппарате отсылок и примечаний, электронном слое, используемой терминологии, принципах и правилах классифицирования приводится во Введении в МПК (сайт Роспатента: http://www.rupto.ru/).
Классификационные рубрики представлены в виде томов. Расширенный уровень состоит из 8 томов, каждый из которых соответствует разделу МПК, то есть:
Том 1 – Раздел А «Удовлетворение жизненных потребностей человека».
Том 2 – Раздел В «Различные технологические процессы; транспортирование».
Том 3 – Раздел С «Химия; металлургия».
Том 4 – Раздел D «Текстиль; бумага».
Том 5 – Раздел E «Строительство; горное дело».
Том 6 – Раздел F «Механика; освещение; отопление; двигатели, оружие и боеприпасы; взрывные работы».
Том 7 – Раздел G «Физика».
Том 8 – Раздел H «Электричество».
В раздел В «Различные технологические процессы; транспортирование» в 2000 году введен специальный класс В82 «Нанотехнология». В определении данного класса, содержащего две основные группы, касающиеся наноструктур, их изготовления или обработки, указывается, что он предназначен для классифицирования и поиска изобретений, которые относятся собственно к нанотехнологиям.
Основными признаками для отнесения изобретения к классу нанотехнологий являются наличие у вещества особой атомарной или молекулярной структуры в нанодиапазоне, которая обусловливает особые физико-химические свойства (сверхпрочность, сверхпроводимость, гигантское магнитное сопротивление и т. д.), а также манипуляция веществом в нанодиапазоне с целью получения или обработки особых наноструктур.
В то же самое время МПК содержит многочисленные рубрики для изобретений, относящиеся по сути к нанотехнологиям, хотя не всегда признак «нано» выражен в явном виде.
Это, например, нанокапсулы для медицинских препаратов – А61К 9/51, способы нанесения жидкостей или других текучих веществ на поверхность – B05D 1/00; получение углерода (углеродные наноструктуры – баккиболлы, нанотрубки, наноспирали и т. п.) – С01В 31/02; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием техники сканирующего зонда – G01N 13/10; измерение размеров с использованием техники сканирующего зонда – G01B; конструктивные элементы устройств, использующих метод сканирующего зонда G12B 21/00; оптические квантовые колодцы – G02F 1/017; многослойные структуры со спиновой связью, например наноструктурированные сверхрешетки – H01F 10/32; способы и устройства для нанесения наноструктур, например, посредством молекулярно-пучковой эпитаксии (MBE) – H01F 41/30; квантуемый по проводам полевой транзистор с каналом с кристаллическим газ-носителем при подаче на затвор напряжения одной полярности (квантовые проводники) – H01L 29/775 и т. д.
Европейское патентное ведомство (ЕПВ), кроме классифицирования документов в соответствии с МПК, осуществляет классификацию по ECLA, в которую также введен новый классификационный индекс Y01N для выделения патентов по нанотехнологиям в базах данных ЕПВ.
Данная классификационная рубрика содержит следующие группы:
Большинство патентных ведомств ведущих стран мира обеспечивает бесплатный доступ к своим патентным базам данных через Интернет.
Но существует ряд различных коммерческих центров типа Derwent, STN, Questel-Orbit и др., обеспечивающих платный доступ к патентно-информационным интернет-услугам.
ФИПС Роспатента предлагает пользователям Интернета по адресу http://www.fips.ru три, созданные на основании официальных публикаций Роспатента, базы данных:
Запросы в БД осуществляются по ключевым словам (словосочетаниям) с использованием логических операторов, индексам МПК, имени заявителя, изобретателя, патентовладельца, номеру документа и др.
Патентное ведомство США (img/image/www.uspto.gov) предлагает в режиме свободного доступа две полнотекстовые базы данных: БД выданных патентов с 1976 года и БД заявок на выдачу патентов с 15 марта 2001 года.
Европейское патентное ведомство предлагает в режиме свободного доступа по адресу http://www.european-patent-office.org:
Патентные документы ЕПВ, Германии, Франции, Швейцарии, Англии, США и ВОИС представлены библиографическими данными, рефератами и полным описанием изобретения, Китая и Японии – библиографическими данными и рефератами, а остальных пятидесяти стран – только библиографическими данными.
Патентное ведомство Японии (img/image/www.jpo-miti.go.jp) также предоставляет свободный доступ к англоязычной реферативной БД японских заявок с 1993 года и БД товарных знаков.
Всемирная организация интеллектуальной собственности (http://www.wipo.org) открывает свободный доступ к двум БД: международных заявок, подаваемых по процедуре РСТ, и JOPAL (журнал патентно-ассоциированной литературы).
БД JOPAL содержит библиографическую информацию о статьях, опубликованных в научно-технической периодике, входящей в «минимум документации» согласно правилу 34 инструкции РСТ, с 1981 года по настоящее время.